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                                    金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜國標
                                    2013/7/10 [4534]

                                    常規的X射線測厚儀比如德國菲希爾的FISCHERSCOPE X-RAY XULM,是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。為了使每次測量都能在*的條件下進行,XULM配備了可電動調整的多種準直器及基本濾片。 比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量??蓽y量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

                                    XULMX射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

                                    本款儀器特別適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

                                    典型的應用領域有:

                                    微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量

                                    印制線路板上手動測量

                                    珠寶手表業中的鍍層厚度測量及成分分析 

                                    設計理念

                                    FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應不同樣品平臺:

                                    XULM 固定平面平臺

                                    XULM XYm 手動X/Y平臺

                                    高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。

                                    盡管儀器本身結構緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。

                                    外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。

                                    通過強大且界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。

                                    XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器。

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